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產(chǎn)品型號：CEM3000
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價格：
折 扣 率： 0
最后更新：2025-02-24
關(guān) 注 度：3371
生產(chǎn)企業(yè)：深圳市中圖儀器股份有限公司
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產(chǎn)品詳細介紹CEM3000臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
核心優(yōu)勢
1、緊湊靈活，突破空間限制
（1）臺式設計，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動實驗室），節(jié)省實驗室空間。
（2）支持快速移機，一臺設備滿足多場景需求，助力科研效率提升。
2、高性能，納米級分辨率
（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達200,000倍放大，精準捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。
（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號，滿足材料科學、生命科學等領(lǐng)域的需求。
3、抗振防磁，穩(wěn)定無懼挑戰(zhàn)
（1）特殊隔振設計（CEM3000B搭載復合抗振系統(tǒng)），消除環(huán)境振動與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。
（2）適用于工業(yè)車間、車載實驗室等復雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠。
4、高效便捷，一鍵智能操作
（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分鐘，大幅縮短等待時間。
（2）自動對焦、消像散、圖像增強功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門檻。
5、靈活拓展，滿足多樣需求
（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導電/非導電樣品觀測。
（2）CEM3000臺式掃描電鏡支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計、孔隙率測量等定制功能，滿足多領(lǐng)域分析需求。
應用場景
材料科學：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。
新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。
生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。
工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。
機型選擇
CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。
CEM3000B（抗振型）：專為振動環(huán)境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。
懇請注意：因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要，本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。
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